株式会社ミツトヨ

白色光干渉計搭載画像測定機 QUICK VISION WLI Proシリーズ QVW-H404P1L-E

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メーカー 株式会社ミツトヨ
分類 非接触式三次元画像測定機
製品名 白色光干渉計搭載画像測定機 QUICK VISION WLI Proシリーズ QVW-H404P1L-E
特長
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。
測定範囲 (mm)
X : 400 Y : 400 Z : 250
WLI画像共通測定範囲
(mm)
315×400×240
測定精度(E1XY軸)
(μm)
(1.5+3L/1000)
測定精度(E2XY平面)
(μm)
(2.0+4L/1000)
測定精度(EUX/EUY,MPE)
(μm)
(0.8+2L/1000)
測定精度(EUXY,MPE)
(μm)
(1.4+3L/1000)
測定精度(EUZ,MPE)
(μm)
(1.5+2L/1000)
最大積載質量
(kg)
25
精度保証環境(環境温度)
(℃)
20±1
精度保証環境(環境温度 時間)
(℃/hour)
0.5/1, 1/24
精度保証環境(光学条件)
2.5倍対物レンズ(QV-HR2.5xまたはQV-SL2.5x)+中倍チューブレンズ
観察装置
プログラム制御パワーターレット 1x, 2x, 6x, (デジタル変倍12x)系
照明タイプ
垂直落射照明:白色LED, ハロゲン(WLIヘッド)
透過照明:白色LED
リング照明:白色LED
スケール分解能
(μm)
0.1
温度補正機能
自動温度補正
撮像素子
B&W CMOSデジタルカメラ
使用空気圧 (MPa)
0.4
WLI繰返し精度
(μm)
2σ≦0.08
載物ガラス寸法
(mm)
493×551
床面サイズ (mm)
W : 1426 D : 1118
機械サイズ (mm)
H : 1381
機械重量 (kg)
1205
音圧レベル (dB)
70以下
備考
・機械重量は設置台を含みます。設置台を除いた機械重量は540kgです。
・測定精度(E1X, E1Y)、測定精度(E2XY)はオプションです。
メーカーHP
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