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株式会社ミツトヨ
大型CNC画像測定機 QV ACCELシリーズ QV-A808P1L-D
非接触式三次元画像測定機
●拡大撮像により、測定物の微細形状を測定します。光学レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導体部品、微小な精密加工品医療機器部品などの測定に有用性を示します。
●非接触測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導体部品、樹脂成形品などの軟質物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。
●培われた画像処理技術と高速ステージ制御による高スループット測定が可能。測定項目が多い、あるいは量産される測定物の工程管理に適しています。
●高精度な非接触高さ測定が可能です高性能な画像オートフォーカスや非接触変位センサにより、高精度な高さ測定が可能です。
●タッチトリガープローブとの併用で、測定物を回転させずに任意の高さで側面も測定でき、従来は困難であった立体物の測定も可能です。
●QVシリーズは高性能画像オートフォーカスを標準装備しており、画像オートフォーカスで精度保証を行います。多彩なオートフォーカスツールにより表面性状や測定部位毎に最適なフォーカスが選択でき、信頼性の高い高さ測定が可能です。またオートフォーカススピードも高速で、トータル測定スループットアップを実現します。
●本体構造に門移動を採用した大物測定用の画像測定機です。
●門移動構造はステージが移動しないためワークの固定方法を簡素化でき軽薄短小ワークに適しています。 , 800x800x1578 , 0.1 , (1.5+3L/1000) , (1.5+4L/1000)
●拡大撮像により、測定物の微細形状を測定します。光学レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導体部品、微小な精密加工品医療機器部品などの測定に有用性を示します。
●非接触測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導体部品、樹脂成形品などの軟質物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。
●培われた画像処理技術と高速ステージ制御による高スループット測定が可能。測定項目が多い、あるいは量産される測定物の工程管理に適しています。
●高精度な非接触高さ測定が可能です高性能な画像オートフォーカスや非接触変位センサにより、高精度な高さ測定が可能です。
●タッチトリガープローブとの併用で、測定物を回転させずに任意の高さで側面も測定でき、従来は困難であった立体物の測定も可能です。
●QVシリーズは高性能画像オートフォーカスを標準装備しており、画像オートフォーカスで精度保証を行います。多彩なオートフォーカスツールにより表面性状や測定部位毎に最適なフォーカスが選択でき、信頼性の高い高さ測定が可能です。またオートフォーカススピードも高速で、トータル測定スループットアップを実現します。
●本体構造に門移動を採用した大物測定用の画像測定機です。
●門移動構造はステージが移動しないためワークの固定方法を簡素化でき軽薄短小ワークに適しています。 , 800x800x1578 , 0.1 , (1.5+3L/1000) , (1.5+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●拡大撮像により、測定物の微細形状を測定します。光学レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導体部品、微小な精密加工品医療機器部品などの測定に有用性を示します。
●非接触測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導体部品、樹脂成形品などの軟質物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。
●培われた画像処理技術と高速ステージ制御による高スループット測定が可能。測定項目が多い、あるいは量産される測定物の工程管理に適しています。
●高精度な非接触高さ測定が可能です高性能な画像オートフォーカスや非接触変位センサにより、高精度な高さ測定が可能です。
●タッチトリガープローブとの併用で、測定物を回転させずに任意の高さで側面も測定でき、従来は困難であった立体物の測定も可能です。
●QVシリーズは高性能画像オートフォーカスを標準装備しており、画像オートフォーカスで精度保証を行います。多彩なオートフォーカスツールにより表面性状や測定部位毎に最適なフォーカスが選択でき、信頼性の高い高さ測定が可能です。またオートフォーカススピードも高速で、トータル測定スループットアップを実現します。
●本体構造に門移動を採用した大物測定用の画像測定機です。
●門移動構造はステージが移動しないためワークの固定方法を簡素化でき軽薄短小ワークに適しています。 , 800x800x1578 , 0.1 , (1.5+3L/1000) , (1.5+4L/1000)
●拡大撮像により、測定物の微細形状を測定します。光学レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導体部品、微小な精密加工品医療機器部品などの測定に有用性を示します。
●非接触測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導体部品、樹脂成形品などの軟質物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。
●培われた画像処理技術と高速ステージ制御による高スループット測定が可能。測定項目が多い、あるいは量産される測定物の工程管理に適しています。
●高精度な非接触高さ測定が可能です高性能な画像オートフォーカスや非接触変位センサにより、高精度な高さ測定が可能です。
●タッチトリガープローブとの併用で、測定物を回転させずに任意の高さで側面も測定でき、従来は困難であった立体物の測定も可能です。
●QVシリーズは高性能画像オートフォーカスを標準装備しており、画像オートフォーカスで精度保証を行います。多彩なオートフォーカスツールにより表面性状や測定部位毎に最適なフォーカスが選択でき、信頼性の高い高さ測定が可能です。またオートフォーカススピードも高速で、トータル測定スループットアップを実現します。
●本体構造に門移動を採用した大物測定用の画像測定機です。
●門移動構造はステージが移動しないためワークの固定方法を簡素化でき軽薄短小ワークに適しています。 , 800x800x1578 , 0.1 , (1.5+3L/1000) , (1.5+4L/1000)
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株式会社ミツトヨ
微細形状スキャニングプローブ搭載画像測定機 MiSCAN Vision System MVS-H302P1L-D
非接触式三次元画像測定機
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 300x200x200 , 0.02 , 175×200×200 , (0.8+2L/1000)
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 300x200x200 , 0.02 , 175×200×200 , (0.8+2L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 300x200x200 , 0.02 , 175×200×200 , (0.8+2L/1000)
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 300x200x200 , 0.02 , 175×200×200 , (0.8+2L/1000)
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株式会社ミツトヨ
微細形状スキャニングプローブ搭載画像測定機 MiSCAN Vision System MVS-H404P1L-D
非接触式三次元画像測定機
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.02 , 275×400×250 , (0.8+2L/1000)
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.02 , 275×400×250 , (0.8+2L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.02 , 275×400×250 , (0.8+2L/1000)
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.02 , 275×400×250 , (0.8+2L/1000)
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株式会社ミツトヨ
微細形状スキャニングプローブ搭載画像測定機 MiSCAN Vision System MVS-X404P1L-D
非接触式三次元画像測定機
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.1 , 275×400×250 , (1.5+3L/1000)
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.1 , 275×400×250 , (1.5+3L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.1 , 275×400×250 , (1.5+3L/1000)
●画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載した理想的なハイブリッド機です。目視による測定が難しい狭小部位でも画像ヘッドで正確な位置決めを行い、狙い込み測定が可能です。
●MPP-NANOスタイラス用観察ユニットをオプションに設定しました。ø0.125ｍｍの極小スタイラスでもモニターで確認しながら測定位置にアプローチ可能なため安心して操作ができます。
●マグネット方式によるキネマティックジョイントの採用により、異なるスタイラスへの交換が容易に行えます。 スタイラス交換工具（MPP-NANOスタイラスツールセット）を標準装備。 , 400x400x250 , 0.1 , 275×400×250 , (1.5+3L/1000)
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微細形状測定システム UMAP Vision System UVS2-H302P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 300x200x200 , 185×200×175 , (1.5+3 L/1000) , (2.0+4L/1000)
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 300x200x200 , 185×200×175 , (1.5+3 L/1000) , (2.0+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 300x200x200 , 185×200×175 , (1.5+3 L/1000) , (2.0+4L/1000)
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 300x200x200 , 185×200×175 , (1.5+3 L/1000) , (2.0+4L/1000)
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株式会社ミツトヨ
微細形状測定システム UMAP Vision System UVS2-U404P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 360x400x200 , 285×400×175 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 360x400x200 , 285×400×175 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 360x400x200 , 285×400×175 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
●最小径15µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。
●最小1µN（UMAP103）の超低測定力により、変形しやすいワークでも測定が可能です。
●スタイラス径の異なるUMAPを最大3種類まで組み合わせ可能。脱着交換はお客様自身で行えます。
●UMAPでの接触測定と画像方式による非接触測定を1台で実現。目視困難な部分でも、画像モードで位置決めを行い、その後UMAPによる狙いこみ測定が可能です。
●高NAと低ディストーションの高性能対物レンズと新光学系の採用により、高いエッジ検出能力を発揮します。
●基準となる測長系には、線膨張係数（0±0.02）×10⁻⁶Kの低膨張ガラススケールを採用し、温度変化によるスケールの伸縮を最小限に抑えています。 , 360x400x200 , 285×400×175 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
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汎用画像測定機(エントリーモデル)QUICK VISION Activeシリーズ QV-L202Z1L-D
非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
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汎用画像測定機(エントリーモデル)QUICK VISION Activeシリーズ QV-L404Z1L-D
非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , 0.1 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000)
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株式会社ミツトヨ
汎用画像測定機(エントリーモデル)QUICK VISION Activeシリーズ QVT1-L202Z1L-D
非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 250x200x118 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
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株式会社ミツトヨ
汎用画像測定機(エントリーモデル)QUICK VISION Activeシリーズ QVT1-L404Z1L-D
非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
●機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC画像測定機です。
●カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。
●タッチプローブ搭載機は、非接触と接触測定をシームレスに実現しました。
●ズーム比7倍（対物レンズ交換による最大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。
●74mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×装着時） , 400x400x168 , (2+3L/1000) , (3+5L/1000) , (2.5+4L/1000)
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白色光干渉計搭載画像測定機 QUICK VISION WLI Proシリーズ QVW-H404P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 315×400×240 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 315×400×240 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 315×400×240 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 315×400×240 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
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白色光干渉計搭載画像測定機 QUICK VISION WLI Proシリーズ QVW-H606P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x220 , 515×650×220 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x220 , 515×650×220 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x220 , 515×650×220 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
●QVWLI ProはQVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。
●WLI 光学系で取得した3Dデータから三次元表面性状解析/三次元粗さ解析が可能です。
●3Dデータから指定高さでの寸法測定や断面形状の測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x220 , 515×650×220 , (1.5+3L/1000) , (2.0+4L/1000)
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超高精度CNC画像測定機 QUICK VISION ULTRA QV-U404P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000)
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000)
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000)
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超高精度CNC画像測定機 QUICK VISION ULTRA QV-U404T1L-E
非接触式三次元画像測定機
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000）
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000）
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非接触式三次元画像測定機
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000）
●X・Y・Z各軸に自社開発の高分解能（0.01 μm）、高精度の低膨張ガラススケールを使用しています。
●高剛性の固定ブリッジY軸テーブル移動構造を採用、ベースには経年変化の少ないグラナイトを使用しています。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。 , 400x400x200 , (0.35+1.3L/1000) , (0.5+2L/1000) , (1.5+2L/1000）
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非接触変位センサ搭載画像測定機 QV HYBRID TYPE1シリーズ QVH1-H302P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
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株式会社ミツトヨ
非接触変位センサ搭載画像測定機 QV HYBRID TYPE1シリーズ QVH1-H404P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
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株式会社ミツトヨ
非接触変位センサ搭載画像測定機 QV HYBRID TYPE1シリーズ QVH1-H606P1L-C
非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+2L/1000) , (0.8+2L/1000)
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非接触変位センサ搭載画像測定機 QV HYBRID TYPE1シリーズ QVH1-X302P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 300x200x200 , 180×200×200 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
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株式会社ミツトヨ
非接触変位センサ搭載画像測定機 QV HYBRID TYPE1シリーズ QVH1-X404P1L-E
非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 400x400x250 , 280×400×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
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株式会社ミツトヨ
非接触変位センサ搭載画像測定機 QV HYBRID TYPE1シリーズ QVH1-X606P1L-C
非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
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非接触式三次元画像測定機
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
●非接触変位センサを搭載しスキャニング機能により微細段差や3D形状測定を可能にした複合測定機です。
●変位センサの検出方式にダブルピンホール方式を採用しました。ナイフエッジ式や三角測量方式と比較して指向性のない測定が可能です。
●レーザスポット径が約2 μmと小さいため微細な形状測定が可能です。
●ストロボ照明を搭載しており、ステージ静定時間を短縮した高スループット測定が可能です。
●デジタル変倍機能により、さらなる拡大表示が可能となりました。
●2024年 日刊工業新聞社 第54回 機械工業デザイン賞 IDEA「日本デザイン振興会賞」受賞。 , 600x650x250 , 480×650×250 , (1.5+4L/1000) , (1.5+3L/1000)
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